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波形捕获率是相对于数字示波器来说的。数字示波器采样、数据到送显屏幕都是需要时间的，数据和送显屏幕这段时间称为死区时间。死区时间内示波器不采样，是探测不到信号发生的变化的，所以实际上不是所有波形我们都能在屏幕上看到，我们看到的波形其实是被死区时间分隔成一段一段的，因此就有了波形捕获率一说。采样时间+死区时间=波形捕获周期。而波形捕获率是指一秒内波形捕获的次数，也就是波形捕获周期的倒数，如下是示波器的一个捕获周期。
为了测试准确，OTDR测试仪的脉冲大小和宽度要适当选择，按照厂方给出的折射率n值的指标设定。在判断故障点时，如果光缆长度预先不知道，可先放在自动OTDR，找出故障点的大体地点，然后放在 OTDR。将脉冲大小和宽度选择小一点，但要与光缆长度相对应，盲区减小直至与坐标线重合，脉宽越小越，当然脉冲太小后曲线显示出现噪波，要恰到好处。再就是加接探纤盘，目的是为了防止近处有盲区不易发觉。关于判断断点时，如果断点不在接续盒处，将就近处接续盒打，接上OTDR测试仪，测试故障点距离测试点的准确距离，利用光缆上的米标就很容易找出故障点。
升温速率的影响和选择升温速率不仅影响峰温的位置，而且影响峰面积的大小，一般来说，在较快的升温速率下峰面积变大，峰变尖锐。但是快的升温速率使试样偏离平衡条件的程度也大，因而易使基线漂移。更主要的可能导致相邻两个峰重叠，分辨力下降。较慢的升温速率，基线漂移小，使体系接近平衡条件，得到宽而浅的峰，也能使相邻两峰更好地分离，因而分辨力高。但测定时间，需要仪器的灵敏度高。一般情况下选择8度min-1～12度min-1为宜。
因此我们常常把样品放在高电压、大电流、高湿度、高温、较大气压等条件下进行测试，然后根据样品的失效机理和模型来推算产品在正常条件下的寿命。可靠性是对产品耐久力的测量，我们主要典型的IC产品的生命周期可以用一条浴缸曲线来表示。冷热冲击试验用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度，适用电工、电子产品、半导体、电子线路板、金属材料等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性。在研制阶段可用于发现产品设计和工艺缺陷，在有些情况下也可用于环境应力筛选，剔除产品的早期故障。
几大：BlackHornet在过去的七年里，部署超过3个 ，现在也被美国和澳大利亚使用，“黑蜂”非常小，可以放在手掌上。全长仅16.7厘米，而且令人惊奇的是，重量仅为28.3克多一点。虽然非常小，“黑蜂”具有与大型无人机类似的功能，因为它的技术非常先进。掌握无人机侦察能力并且可以随时使用明显是很大的优势。BlackHornet3主要了以下几个：可以在没有GPS的区域中飞行——BlackHornet3现在可以在没有GPS的区域中飞行。
我们熟悉的音频功率放大器，它将微弱的音频信号（2Hz~2kHz）进行功率放大后驱动大功率扬声器发声。宽带功率放大器相对于音频功放而言，具有更宽的工作频率，UT-M14是优利德公司发的一款宽带功率放大器，它的全功率带宽高达2MHz，输出功率1W，输出摆率SlewRate大于16V/μs，可适用于更多应用场景如：评估数字钳形表或数字万用表的性能。普通的数字钳形表或数字万用表一般都支持对交流电流的测量，但频率响应通常都在4Hz及以下，一些特殊的数字钳形表或数字万用表支持对1kHz范围内1A及以上的电流信号测量。
由于感应，便会吸引电子，并启沟道。如果浮栅中有电子的注时，即加大的管子的阈值电压，沟道处于关闭状态。这样就达成了关功能。如所示，这是EPROM的写入过程，在漏极加高压，电子从源极流向漏极沟道充分启。在高压的作用下，电子的拉力加强，能量使电子的温度极度上升，变为热电子(hotelectron)。这种电子几乎不受原子的振动作用引起的散射，在受控制栅的施加的高压时，热电子使能跃过SiO2的势垒，注入到浮栅中。
